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無損檢測

背景介紹

無損檢測是利用聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下,檢測零部件是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷的大小、位置、性能和數量等信息,進而判斷被檢對象所處技術狀態的所有技術手段的總稱。

檢測項目

射線檢測

利用射線穿透物質時的衰減特性來探測被檢物中的不連續性(缺陷)并記錄與實現其圖像的方法。射線檢測按照射線(或輻射)源不同可分為X射線檢測、γ射線檢測、中子射線檢測、質子射線檢測和電子輻射檢測等方法。

超聲波檢測

利用人感覺不到的高頻聲波(>20000Hz)在被檢物中的傳播、反射、衰減等特性判斷測定被檢物缺陷的方法。

磁粉檢測

被檢物在磁場中被磁化后,缺陷部位產生漏磁磁場,在被檢物表面撒上磁粉,缺陷處有磁粉附著從而顯示出缺陷。磁粉檢測只適用于鐵磁性材料。鐵磁性材料上非磁性涂層厚度小于50um時,對磁粉檢測靈敏度影響很小。缺陷長度方向與磁場方向相垂直是磁粉檢測的重要條件。

滲透檢測

施加于被檢物的滲透劑靠毛細作用滲入被檢物表面缺陷內,清洗被檢物后,用顯像劑將殘留在缺陷中的滲透劑吸出,從而以熒光或著色圖像顯示缺陷的形狀和位置。滲透液對缺陷的滲透能力與滲透液表面張力、滲透液對固體的潤濕作用、缺陷形狀和大小以及滲透液粘度等有關。 

測設備

      射線探傷機,超聲波探傷儀,磁粉探傷機等。 

檢測標準 

檢測項目

檢測標準

射線檢測

GB/T 3323,JB/T 4730.2,JB/T 6440,EN 1435,ASTM E 446,ASTM E186,ISO 5817

超聲波檢測

GB/T2970,GB/T6402,GB/T7233,GB/T11345,EN 12680-1,ASTM A388/A388M,JB/T 4730.3

磁粉檢測

GB/T15822,JB/T6061,BS EN1290,JB/T 4730.4

滲透檢測

JB/T 9218,JB/T6062,EN 571-1,JB/T 4730.5

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